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高壓加速壽命試驗箱是一種通過模擬嚴苛環(huán)境條件加速產(chǎn)品老化、評估可靠性的設(shè)備。
其核心作用包括以下方面:
模擬高溫、高濕、高壓環(huán)境,加速材料或產(chǎn)品的老化進程,快速暴露產(chǎn)品缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
通過提高環(huán)境應力(如溫度、濕度)和工作應力(電壓、機械負荷等),顯著縮短壽命試驗時間。
行業(yè)覆蓋:國防、航天、汽車部件、電子零配件、半導體封裝、磁性材料、制藥等。
測試對象:
半導體封裝(抗?jié)駳饽芰y試,避免封裝體滲水導致的爆米花效應、斷路等故障);
電子元器件(如IC、LCD、芯片的耐高壓、高溫、濕熱性能)
;
材料及組件的密封性、耐壓性(如線路板、燈飾、照明制品)
。
耐久性測試:在惡劣條件下評估產(chǎn)品的耐久性、可靠性和長期穩(wěn)定性。
氣候適應性驗證:模擬貯存、運輸或使用中可能遇到的高溫高壓環(huán)境,驗證產(chǎn)品的物理性能
。
設(shè)計階段驗證:在產(chǎn)品設(shè)計階段通過加速試驗優(yōu)化工藝,減少后期失效風險。
標準化測試:符合IEC60068-2-66等國際標準,提供精準的溫濕度控制及數(shù)據(jù)采集功能。
安全設(shè)計:采用圓弧內(nèi)膽、緩降壓功能,防止結(jié)露或溫度驟變干擾試驗結(jié)果。
高效測試:通過真空泵實現(xiàn)純凈飽和蒸汽狀態(tài),提升試驗效率和準確性。
綜上,該設(shè)備通過多維度環(huán)境模擬與應力疊加,為工業(yè)產(chǎn)品的研發(fā)、質(zhì)檢及可靠性提升提供關(guān)鍵支持。
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