HAST高壓加速老化試驗箱溫濕度循環(huán)高壓力

核心參數(shù)

1. 溫濕度控制

• 不飽和模式：65%～100% RH（可調(diào)，波動度±2.5%）。

• 飽和模式：100% RH（恒定）。

• 溫度范圍：+105℃～+162.2℃（最高可達162.5℃，支持非標(biāo)定制）。

• 濕度范圍：

• 壓力范圍：0.02～0.393 MPa（表壓，約0.2～3.92 kg/cm2）。

• 循環(huán)性能：支持升溫/降溫循環(huán)，升溫至132℃僅需45分鐘，降溫至常溫約70分鐘。

2. 穩(wěn)定性與精度

• 溫度均勻度：±0.3℃～±2℃（視型號而定）。

• 濕度波動度：±2.5% RH（非飽和模式）。

• 壓力波動：±0.1 kg/cm2。

3. 結(jié)構(gòu)設(shè)計

• 內(nèi)膽雙層圓弧設(shè)計，防止結(jié)露滴水，避免蒸汽直接沖擊樣品。

• 獨立蒸汽發(fā)生室，確保溫濕度均勻分布。

產(chǎn)品特點

1. 智能控制

• 7寸真彩觸摸屏，支持250組程序、12500段編程，可通過USB導(dǎo)出數(shù)據(jù)曲線。

• 三種控制模式：干濕球、不飽和、濕潤飽和，適應(yīng)不同測試需求。

2. 安全與耐用

• 多重保護機制：超壓/超溫報警、漏電保護、機械式壓力安全閥。

• 耐壓設(shè)計：箱體可承受150℃下2.65 kg/cm2壓力，并通過6 kg/cm2水壓測試。

3. 高效測試

• 支持長時間連續(xù)運行（最長400小時）。

• 溫濕度循環(huán)加速老化，快速暴露產(chǎn)品缺陷（如半導(dǎo)體封裝滲水、爆米花效應(yīng)等）。

HAST高壓加速老化試驗箱溫濕度循環(huán)高壓力

應(yīng)用領(lǐng)域

• 電子工業(yè)：IC封裝、半導(dǎo)體芯片、PCB線路板的抗?jié)駳饧懊芊庑詼y試。

• 新能源：光伏組件（EVA）、磁性材料的高溫高壓老化評估。

• 汽車與通信：車載電子、連接器的可靠性驗證。

測試模式與標(biāo)準(zhǔn)

1. 測試模式

• 不飽和控制：75%～100% RH，適用于模擬非嚴苛濕度環(huán)境。

• 濕飽和控制：100% RH恒定，用于加速水分滲透測試。

• 干濕球控制：精準(zhǔn)測量濕度，適配復(fù)雜循環(huán)需求。

2. 符合標(biāo)準(zhǔn)

• 國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-66、JESD22-A110（HAST測試）、JESD22-A102（高壓蒸煮。

• 國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.40（不飽和高壓蒸汽濕熱試驗）。

售后服務(wù)與支持

• 安裝指導(dǎo)：提供現(xiàn)場調(diào)試及免費培訓(xùn)，確保設(shè)備正確使用。

• 維保響應(yīng)：2小時內(nèi)電話支持，2天內(nèi)上門維修，支持長期維保合同。

• 定制服務(wù)：支持非標(biāo)尺寸、壓力范圍及特殊功能定制。